4695 电芯存储 300 天：耗液与孔隙填充率不能直接代表容量衰减
研究联合测量电解液体积、孔隙及退化模式；三组存储的容量衰减不同，耗液与孔隙填充变化却不能直接一一对应。
300 天原型 4695；55 °C/100% SOC、55 °C/80% SOC、45 °C/100% SOC 加速存储，非循环寿命仅摘要
研究问题与关键参数
原始研究4695 电芯 / 日历老化
- 研究问题
- 为何电解液体积或孔隙填充率的下降不能唯一预测 4695 电芯容量衰减？
- 关键参数电芯研究
- 已知
- 电芯：
- 汽车原型 4695，高镍 NMC/石墨–Si/C
- 存储协议：
- 300 天；55 °C/100% SOC、55 °C/80% SOC、45 °C/100% SOC
- 联合诊断：
- 周期性转动惯量测量、CT 卷芯几何、孔隙率及退化模式分析
- 耗液速率分母：
- 电解液体积损失/C/20 容量损失；该比值在 45 °C 组最高
- PFR 口径：
- 摘要所述 100% SOC 下孔隙填充率，三组下降近似，具体测量时点待核对
资料未明确 / 待核验：额定容量与 N/P、初始用液和孔隙体积、体积反演校准与误差、独立重复数、周期诊断是否含恢复循环（共 5 项） - 为什么值得关注
- 判断老化来源时，电解液减少容易被当作容量下降的直接指标；这项大尺寸电芯研究给出了需要分开诊断的实例。
- 核对要点
- 核对转动惯量到电解液体积的反演、孔隙体积随 SOC 变化及 PFR 分母，再分别比较盐消耗、正极退化与容量损失；保留耗液速率的 C/20 分母。
- 局限
- 相近耗液不代表相同反应路径，也不能据相关性给出退化份额；加速存储不可直接换算常温年限，100% SOC 的 PFR 比较口径不能挪作三组相同存储 SOC。